Стр. 40
Страницы: | Стр.1 | Стр.2 | Стр.3 | Стр.4 | Стр.5 | Стр.6 | Стр.7 | Стр.8 | Стр.9 | Стр.10 | Стр.11 | Стр.12 | Стр.13 | Стр.14 | Стр.15 | Стр.16 | Стр.17 | Стр.18 | Стр.19 | Стр.20 | Стр.21 | Стр.22 | Стр.23 | Стр.24 | Стр.25 | Стр.26 | Стр.27 | Стр.28 | Стр.29 | Стр.30 | Стр.31 | Стр.32 | Стр.33 | Стр.34 | Стр.35 | Стр.36 | Стр.37 | Стр.38 | Стр.39 | Стр.40 | Стр.41 | Стр.42 | Стр.43 | Стр.44 | Стр.45 | Стр.46 | Стр.47 | Стр.48 | Стр.49 | Стр.50 | Стр.51 | Стр.52 | Стр.53 | Стр.54 | Стр.55 | Стр.56 | Стр.57 | Стр.58 | Стр.59 | Стр.60 | Стр.61 | Стр.62 | Стр.63 | Стр.64 |
¦ ¦Оптика ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.2.4 ¦Следующее оптическое оборудование: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.2.4.1 ¦Оборудование для измерения абсолютного ¦9031 49 900 0 ¦
¦ ¦значения коэффициента отражения с ¦ ¦
¦ ¦погрешностью +/-0,1% ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.2.4.2 ¦Оборудование, отличное от оборудования ¦9031 49 900 0 ¦
¦ ¦для измерения оптического поверхностного ¦ ¦
¦ ¦рассеяния, имеющее незатемненную ¦ ¦
¦ ¦апертуру с диаметром более 10 см, ¦ ¦
¦ ¦специально разработанное для ¦ ¦
¦ ¦бесконтактного оптического измерения ¦ ¦
¦ ¦неплоскостности оптической поверхности ¦ ¦
¦ ¦(профиля) с точностью 2 нм или меньше ¦ ¦
¦ ¦(лучше) от требуемого профиля ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Примечание. ¦ ¦
¦ ¦Пункт 6.2.4 не применяется к микроскопам ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.2.5 ¦Лазеры - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.2.6 ¦Датчики магнитного и электрического ¦ ¦
¦ ¦полей - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Гравиметры ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.2.7 ¦Оборудование для производства, юстировки ¦9031 80 380 0 ¦
¦ ¦и калибровки гравиметров наземного ¦ ¦
¦ ¦базирования со статической точностью ¦ ¦
¦ ¦лучше 0,1 миллигала ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Радиолокаторы ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.2.8 ¦Импульсные локационные системы для ¦8526 10 000 9 ¦
¦ ¦измерения поперечного сечения, имеющие ¦ ¦
¦ ¦длительность передаваемых импульсов 100 ¦ ¦
¦ ¦нс или менее, и специально разработанные ¦ ¦
¦ ¦для них компоненты ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦В отношении импульсных локационных ¦ ¦
¦ ¦систем, указанных в пункте 6.2.8, см. ¦ ¦
¦ ¦также пункт 6.2.1 разделов 2 и 3 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3 ¦Материалы ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.1 ¦Акустика - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Оптические датчики ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.2 ¦Материалы оптических датчиков: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.2.1 ¦Теллур (Те) с чистотой 99,9995% или ¦2804 50 900 0 ¦
¦ ¦более ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.2.2 ¦Монокристаллы (включая пластины с ¦ ¦
¦ ¦эпитаксиальными слоями) любого из ¦ ¦
¦ ¦следующего: ¦ ¦
¦ ¦а) теллурида цинка-кадмия (CdZnTe) с ¦ ¦
¦ ¦содержанием цинка менее 6% по мольным ¦ ¦
¦ ¦долям; ¦ ¦
¦ ¦б) теллурида кадмия (CdTe) любой ¦ ¦
¦ ¦чистоты; или ¦ ¦
¦ ¦в) теллурида ртути-кадмия (HgCdTe) любой ¦ ¦
¦ ¦чистоты ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Техническое примечание. ¦ ¦
¦ ¦Мольная доля определяется отношением ¦ ¦
¦ ¦молей ZnTe к сумме молей CdTe и ZnTe, ¦ ¦
¦ ¦присутствующих в кристалле ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.3 ¦Камеры - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Оптика ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4 ¦Следующие оптические материалы: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.1 ¦Заготовки из селенида цинка (ZnSe) и ¦2830 90 850 0; ¦
¦ ¦сульфида цинка (ZnS), полученные ¦2842 90 100 0 ¦
¦ ¦химическим осаждением из парогазовой ¦ ¦
¦ ¦фазы, имеющие любую из следующих ¦ ¦
¦ ¦характеристик: ¦ ¦
¦ ¦а) объем более 100 куб.см; или ¦ ¦
¦ ¦б) диаметр более 80 мм и толщину 20 мм ¦ ¦
¦ ¦или более ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.2 ¦Були любых из нижеперечисленных ¦ ¦
¦ ¦электрооптических материалов: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.2.1 ¦Арсенат титанила-калия (КТА) ¦2842 90 800 0 ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.2.2 ¦Селенид серебра-галлия (AgGaSe2) или ¦2842 90 100 0 ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.2.3 ¦Селенид таллия-мышьяка (Tl3AsSe3 ¦2842 90 100 0 ¦
¦ ¦известный также как TAS) ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.3 ¦Нелинейные оптические материалы, имеющие ¦7020 00 800 0 ¦
¦ ¦все следующие характеристики: ¦ ¦
¦ ¦ -6 ¦ ¦
¦ ¦а) кубичную восприимчивость (хи 3) 10 ¦ ¦
¦ ¦кв.м/В-2 или более; и ¦ ¦
¦ ¦б) время отклика менее 1 мс ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.4 ¦Заготовки карбида кремния или осажденных ¦2849 20 000 0; ¦
¦ ¦материалов бериллия-бериллия (Be/Be) с ¦8112 19 000 0 ¦
¦ ¦диаметром или длиной главной оси более ¦ ¦
¦ ¦300 мм ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.5 ¦Стекло, в том числе кварцевое стекло, ¦7001 00 910 0; ¦
¦ ¦фосфатное стекло, фторофосфатное стекло, ¦7001 00 990 0; ¦
¦ ¦фторид циркония (ZrF4) и фторид гафния ¦7020 00 800 0 ¦
¦ ¦(HfF4), имеющее все следующие ¦ ¦
¦ ¦характеристики: ¦ ¦
¦ ¦а) концентрацию гидроксильных ионов ¦ ¦
¦ ¦(ОН-) менее 5 частей на миллион; ¦ ¦
¦ ¦б) интегральные уровни чистоты по ¦ ¦
¦ ¦металлам лучше 1 части на миллион; и ¦ ¦
¦ ¦в) высокую однородность (флуктуацию ¦ ¦
¦ ¦ -6 ¦ ¦
¦ ¦коэффициента преломления) менее 5 x 10 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.4.6 ¦Искусственный алмаз с поглощением менее ¦7104 20 000 0 ¦
¦ ¦ -5 -1 ¦ ¦
¦ ¦10 см в диапазоне длин волн от 200 ¦ ¦
¦ ¦нм до 14000 нм ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Лазеры ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.5 ¦Синтетические кристаллические материалы ¦ ¦
¦ ¦(основа) лазера в виде заготовок: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.5.1 ¦Сапфир, легированный титаном ¦7104 20 000 0 ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.5.2 ¦Александрит ¦7104 20 000 0 ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.6 ¦Датчики магнитного и электрического ¦ ¦
¦ ¦полей - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.7 ¦Гравиметры - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.3.8 ¦Радиолокаторы - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4 ¦Программное обеспечение ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.1 ¦Программное обеспечение, специально ¦ ¦
¦ ¦разработанное для разработки или ¦ ¦
¦ ¦производства оборудования, ¦ ¦
¦ ¦контролируемого по пунктам 6.1.4, 6.1.5, ¦ ¦
¦ ¦6.1.8 или 6.2.8 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦В отношении программного обеспечения, ¦ ¦
¦ ¦указанного в пункте 6.4.1, см. также ¦ ¦
¦ ¦пункт 6.4.1 разделов 2 и 3 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.2 ¦Программное обеспечение, специально ¦ ¦
¦ ¦разработанное для использования ¦ ¦
¦ ¦оборудования, контролируемого по пунктам ¦ ¦
¦ ¦6.1.2.2, 6.1.8 или 6.2.8 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3 ¦Иное программное обеспечение, кроме ¦ ¦
¦ ¦указанного в пунктах 6.4.1 и 6.4.2: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Акустика ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.1 ¦Программное обеспечение следующих видов: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.1.1 ¦Программное обеспечение, специально ¦ ¦
¦ ¦разработанное для формирования ¦ ¦
¦ ¦акустического луча при обработке в ¦ ¦
¦ ¦реальном масштабе времени акустических ¦ ¦
¦ ¦данных для пассивного приема с ¦ ¦
¦ ¦использованием буксируемых гидрофонных ¦ ¦
¦ ¦решеток ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.1.2 ¦Исходная программа для обработки в ¦ ¦
¦ ¦реальном масштабе времени акустических ¦ ¦
¦ ¦данных для пассивного приема с ¦ ¦
¦ ¦использованием буксируемых гидрофонных ¦ ¦
¦ ¦решеток ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.1.3 ¦Программное обеспечение, специально ¦ ¦
¦ ¦разработанное для формирования ¦ ¦
¦ ¦акустического луча при обработке ¦ ¦
¦ ¦акустических данных в реальном масштабе ¦ ¦
¦ ¦времени при пассивном приеме донными или ¦ ¦
¦ ¦погруженными кабельными системами ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.1.4 ¦Исходная программа для обработки в ¦ ¦
¦ ¦реальном масштабе времени акустических ¦ ¦
¦ ¦данных для пассивного приема донными или ¦ ¦
¦ ¦погруженными кабельными системами ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦В отношении программного обеспечения, ¦ ¦
¦ ¦указанного в пункте 6.4.3.1, см. также ¦ ¦
¦ ¦пункт 6.4.2 разделов 2 и 3 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.2 ¦Оптические датчики - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.3 ¦Камеры - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.4 ¦Оптика - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.5 ¦Лазеры - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Датчики магнитного и электрического ¦ ¦
¦ ¦полей ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.6 ¦Программное обеспечение следующих видов: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.6.1 ¦Программное обеспечение, специально ¦ ¦
¦ ¦разработанное для компенсационных систем ¦ ¦
¦ ¦магнитного и электрического полей для ¦ ¦
¦ ¦магнитных датчиков, разработанных в ¦ ¦
¦ ¦целях работы на подвижных платформах ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.6.2 ¦Программное обеспечение, специально ¦ ¦
¦ ¦разработанное для обнаружения аномалий ¦ ¦
¦ ¦магнитного и электрического полей на ¦ ¦
¦ ¦подвижных платформах ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Гравиметры ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.7 ¦Программное обеспечение, специально ¦ ¦
¦ ¦разработанное для коррекции влияния ¦ ¦
¦ ¦движения гравиметров или гравитационных ¦ ¦
¦ ¦градиентометров ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Радиолокаторы ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.8 ¦Программное обеспечение следующих видов: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.8.1 ¦Программы для применения программного ¦ ¦
¦ ¦обеспечения для управления воздушным ¦ ¦
¦ ¦движением, установленные на компьютерах ¦ ¦
¦ ¦общего назначения, находящихся в центрах ¦ ¦
¦ ¦управления воздушным движением и ¦ ¦
¦ ¦обладающих любой из следующих ¦ ¦
¦ ¦возможностей: ¦ ¦
¦ ¦а) одновременной обработкой и ¦ ¦
¦ ¦отображением более 150 траекторий ¦ ¦
¦ ¦систем; или ¦ ¦
¦ ¦б) приемом радиолокационной информации о ¦ ¦
¦ ¦целях от более чем четырех активных РЛС ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.4.3.8.2 ¦Программное обеспечение для разработки ¦ ¦
¦ ¦или производства обтекателей антенн ¦ ¦
¦ ¦радиолокаторов, которые: ¦ ¦
¦ ¦а) специально разработаны для защиты ¦ ¦
¦ ¦фазированных антенных решеток с ¦ ¦
¦ ¦электронным управлением диаграммой ¦ ¦
¦ ¦направленности, контролируемых по пункту ¦ ¦
¦ ¦6.1.8.5; и ¦ ¦
¦ ¦б) обеспечивают средний уровень боковых ¦ ¦
¦ ¦лепестков более чем на 40 дБ ниже ¦ ¦
¦ ¦максимального уровня главного луча ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Техническое примечание. ¦ ¦
¦ ¦Средний уровень боковых лепестков, ¦ ¦
¦ ¦указанный в подпункте "б" пункта ¦ ¦
¦ ¦6.4.3.8.2, измеряется целиком для всей ¦ ¦
¦ ¦решетки, за исключением диапазона углов, ¦ ¦
¦ ¦в который входят главный луч и первые ¦ ¦
¦ ¦два боковых лепестка по обе стороны ¦ ¦
¦ ¦главного луча ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5 ¦Технология ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.1 ¦Технологии в соответствии с общим ¦ ¦
¦ ¦технологическим примечанием для ¦ ¦
¦ ¦разработки оборудования, материалов или ¦ ¦
¦ ¦программного обеспечения, контролируемых ¦ ¦
¦ ¦по пунктам 6.1 - 6.4 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦В отношении технологий, указанных в ¦ ¦
¦ ¦пункте 6.5.1, см. также пункт 6.5.1 ¦ ¦
¦ ¦разделов 2 и 3 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.2 ¦Технологии в соответствии с общим ¦ ¦
¦ ¦технологическим примечанием для ¦ ¦
¦ ¦производства оборудования или ¦ ¦
¦ ¦материалов, контролируемых по пунктам ¦ ¦
¦ ¦6.1, 6.2 или 6.3 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦В отношении технологий, указанных в ¦ ¦
¦ ¦пункте 6.5.2, см. также пункт 6.5.2 ¦ ¦
¦ ¦разделов 2 и 3 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3 ¦Другие технологии: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.1 ¦Акустика - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.2 ¦Оптические датчики - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.3 ¦Камеры - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.4 ¦Оптика ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.4.1 ¦Технология покрытия и обработки ¦ ¦
¦ ¦оптических поверхностей, требуемая для ¦ ¦
¦ ¦достижения однородности 99,5% или лучше, ¦ ¦
¦ ¦для оптических покрытий заготовок ¦ ¦
¦ ¦диаметром или длиной по главной оси ¦ ¦
¦ ¦более 500 мм и с общими потерями ¦ ¦
¦ ¦ -3 ¦ ¦
¦ ¦(поглощение и рассеяние) менее 5 x 10 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦См. также пункт 2.5.3.6 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.4.2 ¦Технология изготовления оптических ¦ ¦
¦ ¦деталей, использующая технику алмазной ¦ ¦
¦ ¦обработки, дающей точность финишной ¦ ¦
¦ ¦обработки неплоских поверхностей ¦ ¦
¦ ¦площадью более 0,5 кв.м с наибольшим ¦ ¦
¦ ¦среднеквадратичным отклонением от ¦ ¦
¦ ¦заданной поверхности менее 10 нм ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.5 ¦Лазеры ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.5.1 ¦Технологии, требуемые для разработки, ¦ ¦
¦ ¦производства или использования ¦ ¦
¦ ¦специализированных диагностических ¦ ¦
¦ ¦инструментов или мишеней в испытательных ¦ ¦
¦ ¦установках для испытаний лазеров ¦ ¦
¦ ¦сверхвысокой мощности или испытаний, или ¦ ¦
¦ ¦оценки стойкости материалов, облучаемых ¦ ¦
¦ ¦лучами лазеров сверхвысокой мощности ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.6 ¦Датчики магнитного и электрического ¦ ¦
¦ ¦полей - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.7 ¦Гравиметры - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 6.5.3.8 ¦Радиолокаторы - нет ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦ Категория 7. НАВИГАЦИЯ И АВИАЦИОННАЯ ¦ ¦
¦ ¦ ЭЛЕКТРОНИКА ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 7.1 ¦Системы, оборудование и компоненты ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦Для автоматических систем управления ¦ ¦
¦ ¦подводных аппаратов - см. категорию 8, ¦ ¦
¦ ¦для РЛС - категорию 6 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 7.1.1 ¦Акселерометры, перечисленные ниже, и ¦ ¦
¦ ¦специально разработанные для них ¦ ¦
¦ ¦компоненты: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 7.1.1.1 ¦Линейные акселерометры, имеющие любую из ¦9014 20; ¦
¦ ¦следующих характеристик: ¦9032 89 000 9 ¦
¦ ¦а) определенные (по паспорту) для работы ¦ ¦
¦ ¦при значениях линейных ускорений, равных ¦ ¦
¦ ¦15 g или меньше, и имеющие любое из ¦ ¦
¦ ¦следующего: стабильность смещения менее ¦ ¦
¦ ¦(лучше) 130 микро g относительно ¦ ¦
¦ ¦фиксированной калиброванной величины на ¦ ¦
¦ ¦протяжении одного года; или стабильность ¦ ¦
¦ ¦масштабного коэффициента менее (лучше) ¦ ¦
¦ ¦0,013% относительно фиксированной ¦ ¦
¦ ¦калиброванной величины на протяжении ¦ ¦
¦ ¦одного года; ¦ ¦
¦ ¦б) определенные (по паспорту) для работы ¦ ¦
¦ ¦при значениях линейных ускорений, ¦ ¦
¦ ¦превышающих 15 g, и имеющие все ¦ ¦
¦ ¦следующее: повторяемость смещения менее ¦ ¦
¦ ¦(лучше) 5000 микро g на протяжении ¦ ¦
¦ ¦одного года и повторяемость масштабного ¦ ¦
¦ ¦коэффициента менее (лучше) 0,25% на ¦ ¦
¦ ¦протяжении одного года; или ¦ ¦
¦ ¦в) предназначенные для использования в ¦ ¦
¦ ¦инерциальных навигационных системах или ¦ ¦
¦ ¦системах наведения и определенные (по ¦ ¦
¦ ¦паспорту) для работы при значениях ¦ ¦
¦ ¦линейных ускорений, превышающих 100 g ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦Для угловых или вращающихся ¦ ¦
¦ ¦акселерометров см. пункт 7.1.1.2 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 7.1.1.2 ¦Угловые или вращающиеся акселерометры, ¦9014 20; ¦
¦ ¦определенные (по паспорту) для работы ¦9032 89 000 9 ¦
¦ ¦при значениях линейных ускорений, ¦ ¦
¦ ¦превышающих 100 g ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 7.1.2 ¦Гироскопы или датчики угловой скорости, ¦9014 20 200 0; ¦
¦ ¦имеющие любую из следующих ¦9032 89 000 9 ¦
¦ ¦характеристик, и специально ¦ ¦
¦ ¦разработанные для них компоненты: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Особое примечание. ¦ ¦
¦ ¦Для угловых или вращающихся ¦ ¦
¦ ¦акселерометров см. пункт 7.1.1.2 ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦а) стабильность смещения, измеренную в ¦ ¦
¦ ¦условиях приложения нормальной силы ¦ ¦
¦ ¦тяжести (1 g) на протяжении одного ¦ ¦
¦ ¦месяца, относительно фиксированной ¦ ¦
¦ ¦калиброванной величины менее (лучше) 0,5 ¦ ¦
¦ ¦градуса в час и определенные (по ¦ ¦
¦ ¦паспорту) для работы при значениях ¦ ¦
¦ ¦линейных ускорений до 100 g ¦ ¦
¦ ¦включительно; ¦ ¦
¦ ¦б) угловой случайный дрейф, равный или ¦ ¦
¦ ¦меньше (лучше) 0,0035 градуса, деленного ¦ ¦
¦ ¦на корень квадратный из времени в часах; ¦ ¦
¦ ¦или ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦Примечание. ¦ ¦
¦ ¦По подпункту "б" пункта 7.1.2 ¦ ¦
¦ ¦контролируются механические гироскопы с ¦ ¦
¦ ¦вращающимся ротором ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ ¦в) диапазон измеряемой угловой скорости, ¦ ¦
¦ ¦равный или больше 500 градусов в ¦ ¦
¦ ¦секунду, и имеющие любое из следующего: ¦ ¦
¦ ¦стабильность смещения, измеренную в ¦ ¦
¦ ¦условиях приложения нормальной силы ¦ ¦
¦ ¦тяжести (1 g) на протяжении трех минут, ¦ ¦
¦ ¦относительно фиксированной калиброванной ¦ ¦
¦ ¦величины менее (лучше) 40 градусов в ¦ ¦
¦ ¦час; или угловой случайный дрейф, равный ¦ ¦
¦ ¦или меньше (лучше) 0,2 градуса, ¦ ¦
¦ ¦деленного на корень квадратный из ¦ ¦
¦ ¦времени в часах; или ¦ ¦
¦ ¦г) определенные (по паспорту) для работы ¦ ¦
¦ ¦при значениях линейных ускорений, ¦ ¦
¦ ¦превышающих 100 g ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 7.1.3 ¦Инерциальные системы и специально ¦ ¦
¦ ¦разработанные компоненты: ¦ ¦
+--------------+------------------------------------------+---------------+
¦ 7.1.3.1 ¦Инерциальные навигационные системы (ИНС) ¦9014 10 000 0; ¦
¦ ¦на кардановом подвесе или ¦9014 20 ¦
¦ ¦бесплатформенные и инерциальное ¦ ¦
Страницы: | Стр.1 | Стр.2 | Стр.3 | Стр.4 | Стр.5 | Стр.6 | Стр.7 | Стр.8 | Стр.9 | Стр.10 | Стр.11 | Стр.12 | Стр.13 | Стр.14 | Стр.15 | Стр.16 | Стр.17 | Стр.18 | Стр.19 | Стр.20 | Стр.21 | Стр.22 | Стр.23 | Стр.24 | Стр.25 | Стр.26 | Стр.27 | Стр.28 | Стр.29 | Стр.30 | Стр.31 | Стр.32 | Стр.33 | Стр.34 | Стр.35 | Стр.36 | Стр.37 | Стр.38 | Стр.39 | Стр.40 | Стр.41 | Стр.42 | Стр.43 | Стр.44 | Стр.45 | Стр.46 | Стр.47 | Стр.48 | Стр.49 | Стр.50 | Стр.51 | Стр.52 | Стр.53 | Стр.54 | Стр.55 | Стр.56 | Стр.57 | Стр.58 | Стр.59 | Стр.60 | Стр.61 | Стр.62 | Стр.63 | Стр.64 |
| 
