Стр. 45
Страницы:
Стр.1 |
Стр.2 |
Стр.3 |
Стр.4 |
Стр.5 |
Стр.6 |
Стр.7 |
Стр.8 |
Стр.9 |
Стр.10 |
Стр.11 |
Стр.12 |
Стр.13 |
Стр.14 |
Стр.15 |
Стр.16 |
Стр.17 |
Стр.18 |
Стр.19 |
Стр.20 |
Стр.21 |
Стр.22 |
Стр.23 |
Стр.24 |
Стр.25 |
Стр.26 |
Стр.27 |
Стр.28 |
Стр.29 |
Стр.30 |
Стр.31 |
Стр.32 |
Стр.33 |
Стр.34 |
Стр.35 |
Стр.36 |
Стр.37 |
Стр.38 |
Стр.39 |
Стр.40 |
Стр.41 |
Стр.42 |
Стр.43 |
Стр.44 |
Стр.45 |
Стр.46 |
Стр.47 |
Стр.48 |
Стр.49 |
Стр.50 |
Стр.51 |
Стр.52 |
Стр.53 |
Стр.54 |
Стр.55 |
Стр.56 |
Стр.57 |
Стр.58
многощелочные фотокатоды со
светочувствительностью более
700 мкА/лм;
2) фотокатоды на GaAs или GaInAs;
или
3) другие полупроводниковые
фотокатоды на соединениях
групп III-V
Примечание. Подпункт 3 пункта
6.1.2.1.2 не включает фотокатоды
на полупроводниковых соединениях
с максимальной интегральной
чувствительностью к лучистому
потоку 10 мА/Вт или менее.
6.1.2.1.3. Решетки фокальной плоскости:
6.1.2.1.3.1. Решетки фокальной плоскости, 8541 40 900 0
непригодные для применения в
космосе, имеющие все следующие
составляющие:
а) отдельные элементы с
максимальной чувствительностью в
диапазоне длин волн от 900 нм
до 1050 нм; и
б) постоянную времени отклика
менее 0,5 нс
6.1.2.1.3.2. Решетки фокальной плоскости, 8541 40 900 0
непригодные для применения в
космосе, имеющие все следующие
составляющие:
а) отдельные элементы с
максимальной чувствительностью
в диапазоне длин волн от 1050 нм
до 1200 нм; и
б) постоянную времени отклика
95 нс или менее
6.1.2.1.3.3. Нелинейные (двухмерные) решетки 8541 40 900 0
фокальной плоскости, непригодные
для применения в космосе, имеющие
отдельные элементы с максимальной
чувствительностью в диапазоне
длин волн от более 1200 нм
до 30000 нм
6.1.2.1.3.4. Линейные (одномерные) решетки 8541 40 900 0
фокальной плоскости, непригодные
для применения в космосе, имеющие
все следующие составляющие:
а) отдельные элементы с
максимальной чувствительностью в
диапазоне длин волн от 1200 нм
до 2500 нм включительно; и
б) любое из следующего:
отношение размера в направлении
сканирования детекторного
элемента к размеру в направлении
поперек сканирования детекторного
элемента менее 3,8; или
обработку сигналов в элементе
6.1.2.1.3.5. Линейные (одномерные) решетки 8541 40 900 0
фокальной плоскости, непригодные
для применения в космосе, имеющие
отдельные элементы с максимальной
чувствительностью в диапазоне
длин волн от 2500 нм до 30000 нм
включительно
Технические примечания:
1. Линейные или двухмерные
многоэлементные детекторные
решетки относятся к решеткам
фокальной плоскости.
2. Для целей пункта 6.1.2.1.3
"направление поперек
сканирования" определяется как
ось, параллельная линейке
детекторных элементов, а
"направление сканирования"
определяется как ось,
перпендикулярная линейке
детекторных элементов.
Примечания:
1. Пункт 6.1.2.1.3 включает
фотопроводящие и
фотоэлектрические решетки.
2. По пункту 6.1.2.1.3 не
контролируются:
а) кремниевые решетки фокальной
плоскости;
б) многоэлементные (не более
16 элементов) фотопроводящие
ячейки, использующие сульфид или
селенид свинца;
в) пироэлектрические детекторы
на основе любого из следующих
материалов:
триглицинсульфата и его
производных;
титаната свинца-лантана-циркония
и его производных;
танталата лития;
поливинилиденфторида и его
производных;
или ниобата бария-стронция и его
производных.
3. По пункту 6.1.2.1.3 следующие
решетки фокальной плоскости не
включены в настоящий раздел:
а) решетки фокальной плоскости на
силициде платины (PtSi), имеющие
менее 10000 элементов;
б) решетки фокальной плоскости на
силициде иридия (IrSi);
в) решетки фокальной плоскости на
антимониде индия (InSb) или
селениде свинца (PbSe), имеющие
менее 256 элементов;
г) решетки фокальной плоскости на
арсениде индия (InAs);
д) решетки фокальной плоскости на
сульфиде свинца (PbS); или
е) решетки фокальной плоскости на
соединениях индий-арсенид-галлий
(InGaAs);
ж) решетки фокальной плоскости с
потенциальной ямой, выполненные
на основе арсенида галлия (GaAs)
или галлий-алюминий-мышьяка
(GaAlAs), имеющие менее
256 элементов;
з) пироэлектрические или
ферроэлектрические решетки
фокальной плоскости (содержащие
титанат бария-стронция, титанат
цирконата свинца или титанат
свинца-скандия), имеющие менее
8000 элементов;
и) нитридванадиевые
оксидсиликоновые
микроболометрические решетки
фокальной плоскости, имеющие
менее 8000 элементов.
4. По пункту 6.1.2.1.3 следующие
решетки фокальной плоскости на
основе ртуть-кадмий-теллур
(HgCdTe) не включены в настоящий
раздел:
а) сканирующие решетки, имеющие:
30 элементов или менее; или
реализующие поэлементное
включение времени задержки и
интегрирования и имеющие два или
менее элемента; или
б) широкообзорные решетки,
имеющие менее 256 элементов.
Технические примечания:
1. Сканирующие решетки
определяются как решетки
фокальной плоскости,
разработанные для использования
в сканирующих оптических
системах, которые формируют общую
картину методом последовательного
формирования отдельных
изображений.
2. Широкообзорные решетки
определяются как решетки
фокальной плоскости,
разработанные для использования
с несканирующей оптической
системой, которая формирует общую
картину.
Примечание. По пункту 6.1.2.1 не
контролируются германиевые или
кремниевые фотоустройства.
6.1.2.2. Моноспектральные датчики 8540 89 000 0
изображения и многоспектральные
датчики изображения,
разработанные для применения при
дистанционном зондировании и
имеющие любую из следующих
характеристик:
а) мгновенное поле обзора (МПО)
менее 200 мкрад; или
б) разработанные для
функционирования в диапазоне длин
волн от 400 нм до 30000 нм и
обладающие всеми
нижеперечисленными свойствами:
обеспечивающие выходные данные
изображения в цифровом формате;
пригодные для применения в
космосе или разработанные для
функционирования на борту
летательного аппарата при
использовании некремниевых
детекторов;
и имеющие МПО менее 2,5 мрад
6.1.2.3. Оборудование прямого наблюдения
изображения, работающее в видимом
диапазоне или ИК-диапазоне и
содержащее любую из следующих
составляющих:
6.1.2.3.1. Электронно-оптические 8540 20 800 0;
преобразователи, имеющие 8540 99 000 0;
характеристики, указанные в 9005
пункте 6.1.2.1.2; или
6.1.2.3.2. Решетки фокальной плоскости, 8540 99 000 0;
имеющие характеристики, 9005
указанные в пункте 6.1.2.1.3
Техническое примечание.
Под оборудованием прямого
наблюдения изображения
подразумевается оборудование для
получения изображения, работающее
в видимом диапазоне или
ИК-диапазоне, которое
представляет визуальное
изображение человеку-наблюдателю
без преобразования изображения в
электронный сигнал для
телевизионного дисплея и которое
не может записывать или сохранять
изображение фотографически, а
также электронным или другим
способом.
Примечание. По пункту 6.1.2.3 не
контролируется следующее
оборудование, содержащее
фотокатоды на материалах,
отличных от GaAs или GaInAs:
а) промышленные или гражданские
системы охранной сигнализации,
системы управления движением
транспорта или производственным
движением и системы счета;
б) медицинское оборудование;
в) промышленное оборудование,
используемое для инспекции,
сортировки или анализа свойств
материалов;
г) датчики контроля пламени для
промышленных печей;
д) оборудование, специально
разработанное для лабораторного
использования
6.1.2.4. Решетки фокальной плоскости, 9013 80 900 0
пригодные для применения в
космосе, имеющие более 2048
элементов на решетку и
максимальную чувствительность в
диапазоне длин волн от 300 нм до
900 нм
6.1.3. Камеры
6.1.3.1. Камеры формирования изображения:
6.1.3.1.1. Камеры формирования изображений, 8525 40
содержащие электронно-оптические
преобразователи, имеющие
характеристики, указанные в
пункте 6.1.2.1.2
6.1.3.1.2. Камеры формирования изображений, 8525 40
включающие решетки фокальной
плоскости, имеющие
характеристики, указанные в
пункте 6.1.2.1.3
Примечание. По пункту 6.1.3.1.2
не контролируются камеры
формирования изображений,
содержащие линейные решетки
фокальной плоскости с 12 или
меньшим числом элементов, не
применяющих задержку по времени и
интегрирование в элементе,
разработанные для любого из
следующего:
а) промышленных или гражданских
систем охранной сигнализации,
систем управления движением
транспорта или производственным
движением и систем счета;
б) производственного
оборудования, используемого для
контроля или мониторинга тепловых
потоков в зданиях, оборудовании
или производственных процессах;
в) производственного
оборудования, используемого для
контроля, сортировки или анализа
свойств материалов;
г) оборудования, специально
разработанного для лабораторного
использования;
д) медицинского оборудования.
Примечание. По пункту 6.1.3.1 не
контролируются телевизионные или
видеокамеры, специально
разработанные для телевизионного
вещания.
6.1.4. Оптика
6.1.4.1. Компоненты для оптических систем,
пригодные для применения
в космосе:
6.1.4.1.1. Оптические элементы облегченного 9001 90 900 0;
типа с эквивалентной плотностью 9002 90 900 0
менее 20% по сравнению со
сплошной заготовкой с теми же
апертурой и толщиной
6.1.4.1.2. Необработанные подложки, 7014 00 000 0;
обработанные подложки с 9001 90 900 0
поверхностным покрытием
(однослойным или многослойным,
металлическим или
диэлектрическим, проводящим,
полупроводящим или изолирующим)
или имеющие защитные пленки
6.1.4.1.3. Сегменты или системы зеркал, 9001 90 900 0;
предназначенные для сборки в 9002 90 900 0
космосе в оптическую систему с
приемной апертурой, равной или
больше одного оптического метра
в диаметре
6.1.4.1.4. Изготовленные из композиционных 9003 90 000 0
материалов, имеющих коэффициент
линейного термического
расширения, равный или менее
5 х 10**-6 в любом направлении
6.1.4.2. Оборудование оптического
контроля:
6.1.4.2.1. Специально разработанное для 9031 49 000 0;
поддержания профиля поверхности 9032 89 900 0
или ориентации оптических
компонентов, пригодных для
применения в космосе,
контролируемых по пункту
6.1.4.1.1 или 6.1.4.1.3
6.1.4.2.2. Имеющее управление, слежение, 9031 49 000 0;
стабилизацию или юстировку 9032 89 900 0
резонатора в полосе частот,
равной или выше 100 Гц, и
погрешность 10 мкрад или менее
6.1.4.2.3. Кардановы подвесы, имеющие все 8412 21 910 9;
следующие характеристики: 8412 31 900 0;
а) максимальный угол поворота 8479 89 980 0;
более 5°; 9032 81 900 0;
б) ширину полосы, равную или 9032 89 900 0
выше 100 Гц;
в) ошибки угловой наводки, равные
или меньше 200 мкрад; и
г) имеющие любую из следующих
характеристик:
диаметр или длину главной оси
более 0,15 м, но не более 1 м и
допускающие угловые ускорения
2
более 2 рад/с ; или
диаметр или длину главной оси
более 1 м и допускающие угловые
2
ускорения более 0,5 рад/с
6.1.4.2.4. Специально разработанное для 9032 89 900 0
поддержания юстировки
фазированной решетки или систем
зеркал с фазированными
сегментами, содержащее зеркала с
диаметром сегмента или длиной
главной оси 1 м или более
6.1.5. Магнитометры
6.1.5.1. Магнитокомпенсационные системы 9015 80 930 0
для магнитных датчиков,
разработанных для применения
на подвижных платформах
Примечание. В пункт 6.1.5.1 не
включены компенсаторы, которые
обеспечивают только абсолютные
значения геомагнитного поля на
выходе, то есть ширину полосы
выходного сигнала от 0 Гц до,
по крайней мере, 0,8 Гц.
6.1.5.2. Сверхпроводящие электромагнитные 9015 80 930 0
датчики, содержащие компоненты,
изготовленные из сверхпроводящих
материалов и имеющие все
следующие составляющие:
а) специально разработанные для
работы при температурах ниже
критической температуры по
меньшей мере одного из
компонентов сверхпроводников
(включая устройства на эффекте
Джозефсона или сверхпроводящие
устройства квантовой
интерференции (СКВИДы);
б) специально разработанные для
измерений вариаций
электромагнитного поля на
частотах 1 кГц или ниже; и
в) имеющие любую из следующих
характеристик:
встроенные тонкопленочные СКВИДы
с минимальным размером элемента
менее 2 мкм и с соответствующими
схемами соединения входа
и выхода;
разработанные для
функционирования при максимальной
скорости нарастания магнитного
поля более 10**6 квантов
магнитного потока в секунду;
разработанные для
функционирования без магнитного
экрана в окружающем земном
магнитном поле; или
имеющие температурный коэффициент
менее 0,1 кванта магнитного
потока, деленного на Кельвин
Примечание. По пунктам 6.1.5.1 и
6.1.5.2 не контролируются
инструменты, специально
разработанные для биомагнитных
измерений медицинской
диагностики.
Радиолокаторы
6.1.6. Локационные системы, оборудование
и узлы, имеющие любую из
следующих характеристик:
6.1.6.1. Имеют возможность работы в 8526 10
режимах РЛС с синтезированной
апертурой или обратной
синтезированной апертурой или
в режиме локатора бокового обзора
воздушного базирования
6.1.6.2. Используют обработку сигналов 8526 10
локатора с применением:
а) методов расширения спектра
РЛС; или
б) методов радиолокации с быстрой
перестройкой частоты
6.1.6.3. Имеют подсистемы обработки 8526 10
сигнала со сжатием импульса с
любой из следующих характеристик:
а) коэффициентом сжатия импульса
более 150; или
б) шириной импульса менее 200 нс;
или
6.1.6.4. Имеют подсистемы обработки данных 8526 10
для автоматического распознавания
образов (выделение признаков) и
сравнения с базами данных
Страницы:
Стр.1 |
Стр.2 |
Стр.3 |
Стр.4 |
Стр.5 |
Стр.6 |
Стр.7 |
Стр.8 |
Стр.9 |
Стр.10 |
Стр.11 |
Стр.12 |
Стр.13 |
Стр.14 |
Стр.15 |
Стр.16 |
Стр.17 |
Стр.18 |
Стр.19 |
Стр.20 |
Стр.21 |
Стр.22 |
Стр.23 |
Стр.24 |
Стр.25 |
Стр.26 |
Стр.27 |
Стр.28 |
Стр.29 |
Стр.30 |
Стр.31 |
Стр.32 |
Стр.33 |
Стр.34 |
Стр.35 |
Стр.36 |
Стр.37 |
Стр.38 |
Стр.39 |
Стр.40 |
Стр.41 |
Стр.42 |
Стр.43 |
Стр.44 |
Стр.45 |
Стр.46 |
Стр.47 |
Стр.48 |
Стр.49 |
Стр.50 |
Стр.51 |
Стр.52 |
Стр.53 |
Стр.54 |
Стр.55 |
Стр.56 |
Стр.57 |
Стр.58
|
